双波段发射率测量仪

  1．测量波段：1～22μm  3～5μm  8～14μm  

  2．发射率测量范围：0.1～0.99

  3．灵敏度：0.001

  4．示值误差：±0.02 (>0.50)

  5．重复性：±0.01

  6．样品温度：常温～600℃

  7．样品尺寸：∮35 mm

  8．测量时间：3秒后按轻触开关E，即显示测量值。

  9．显示方法：LED数字显示，末位0.001

  10．电   源：交流220V 50HZ

  主要特色：

  IR-2双波段发射率测量仪是中科院科研人员在获国家发明专利ZL 91107415“一种现场测量发射率的方

  法”研究，以及获上海市1997年科技进步二等奖“是一种高精度测量常温～600℃物体红外发射率的方法

  和装置”，在第一代“IR-1发射率测量仪”的基础上，经不断改进、研制成功的红外材料发射率测定专用

  仪器。

  主要功能

  1．军用武器装备红外隐身材料的研究测试。

  2．红外烘烤高发射涂层材料的研究测试。

  3．建筑材料、保温材料及涂层材料及纸张等红外发射率研究测试。

  4．纺织行业掺杂红外材料保温纺织品的红外发射率研究测试。